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　　一般而言，射頻端子接觸不良的檢測主要有瞬斷檢測、單孔分離力檢測、導通檢測三種有效方法，具體如下：
　　第一、瞬斷檢測
　　有些接線端子是在動態(tài)振動環(huán)境下使用的。實驗證明僅用檢驗靜態(tài)接觸電阻是否合格，并不能保證動態(tài)環(huán)境下使用接觸可靠。因為，往往接觸電阻合格的連接器在進行振動，沖擊等模擬環(huán)境試驗時仍出現(xiàn)瞬間斷電現(xiàn)象，故對一些高可靠性要求的接線端子，希望能100%對其進行動態(tài)振動試驗考核其接觸可靠性。
　　第二、單孔分離力檢測
　　單孔分離力是指插合狀態(tài)的接觸件由靜止變?yōu)檫\動的分離力，用來表征插針和插孔正在接觸。實驗表明：單孔分離力過小，在受振動、沖擊載荷時有可能造成信號瞬斷。用測單孔分離力的方法檢查接觸可靠性比測接觸電阻有效。檢查發(fā)現(xiàn)單孔分離力超差的插孔，測量接觸電阻往往仍合格。
　　第三、導通檢測
　　目前，一般大電流接線端子生產(chǎn)廠家產(chǎn)品驗收試驗無此項目，而用戶裝機后一般均需要進行導通檢測。因此建議生產(chǎn)廠家對一些看好的型號的產(chǎn)品應該增加100%的逐點導通檢測。